透過電子顕微鏡解析機器
Tranmission Electron Microscope
TEM
透過電子顕微鏡
日本電子
JEM-1400 Flash & 広域撮像システム
JEM-1400 Flashは、生物試料の細胞内構造や微細構造を高分解能で観察できる透過電子顕微鏡です。樹脂包埋切片や免疫電子顕微鏡試料などの観察に適しており、細胞小器官、膜構造、ウイルス様粒子、ナノスケールの構造解析に用いられます。広域撮像システムを組み合わせることで、多数の視野を自動で撮影し、広い範囲の高精細な電顕画像を取得できます。
走査電子顕微鏡解析機器
Scanning Electron Microscope
SEM
自動撮像システム搭載電界放出型走査電子顕微鏡
日立ハイテク
SU8600 with ACAT & MirrorCLEM & EM Flow Creator
SU8600は、低加速電圧から高分解能観察が可能な電界放出型走査電子顕微鏡です。生物試料、樹脂包埋試料、材料試料などの表面構造や断面構造を高精細に観察できます。ACATによる自動連続切片撮像に対応しており、EM Flow Creatorによる多点体かつ広い範囲の高解像度SEM画像を効率よく取得できます。また、MirrorCLEMを用いることで、光学顕微鏡像とSEM像を対応づけた相関顕微鏡解析にも利用できます。
SEM
自動撮像システム搭載汎用走査電子顕微鏡
日立ハイテク
SU3800 with EM Flow Creator
SU3800は、幅広い試料の表面構造や断面構造を観察できる汎用走査電子顕微鏡です。生物試料、樹脂包埋試料、材料試料などの観察に対応しており、試料全体の形態観察から詳細な構造解析まで利用できます。EM Flow Creatorによる自動撮像に対応しており、広い範囲のSEM画像を効率よく取得できます。
SEM
卓上型走査電子顕微鏡
日立ハイテク
TM4000Plus II
TM4000Plus IIは、簡便な操作で試料の表面構造を観察できる卓上型走査電子顕微鏡です。低真空観察に対応しており、導電処理が難しい試料や含水性のある試料でも観察しやすいことが特徴です。生物試料、植物試料、材料試料などの迅速な形態確認や、断面研磨試料の予備観察に利用できます。
質量分析・顕微鏡解析ユニット
理化学研究所横浜キャンパス
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