透過電子顕微鏡解析機器
TEM 透過電子顕微鏡 日本電子 JEM-1400 Flash & 広域撮像システム
走査電子顕微鏡解析機器
電界放出型走査電子顕微鏡 日立ハイテク SU8220 with EDX & MirrorCLEM
汎用走査電子顕微鏡 日立ハイテク SU1510
卓上走査電子顕微鏡 日立ハイテク TM4000 plus II
高圧凍結装置(光刺激＆電気刺激システム搭載)
ライカ EM ICE
ウルトラミクロトーム
ライカ EM UC7
トリミング装置
ライカ Trim II
臨界点乾燥装置
Bal-Tec CPD-030
凍結乾燥装置
真空デバイス VFD-30
真空デバイス HPC-1SW
真空デバイス VC-100S
イオンスパッター装置
日本電子 JFC-1600
