開発技術
光-電子相関顕微鏡システムの開発
我々は、日立ハイテク社とともに、光-電子相関顕微鏡システム"MirrorCLEM"を開発するとともに、様々な試料調製法の開発を進めています。例えば、樹脂包埋した厚切切片中の蛍光タンパク質発現試料の蛍光を共焦点レーザー顕微鏡により検出した後、同一箇所の微細構造を電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)により撮影し、蛍光像と重ね合わせることで、蛍光を放つオルガネラを特定する光-電子相関顕微鏡法(CLEM)の開発を行っています。このCLEMを用いて、細胞分化・環境変化で形態変化が起きる細胞内膜輸送系の微細構造レベルでの実体の把握を目指しています。
→The HITACHI Scientific Instrument News「MirrorCLEM：シームレスな光-電子相関顕微鏡システム」
→ Toyooka K, Shinozaki-Narikawa N. Efficient fluorescence recovery using antifade reagents in correlative light and electron microscopy. Microscopy (Oxford, England) 68 417-421
→ 豊岡 公徳, 若崎 眞由美, 宮 彩子, 佐藤 繭子 "切片SEM観察法の植物試料への応用 " 顕微鏡 55(1) 7 - 12 2020年4月
→武田-神谷 紀子, 後藤 友美, 佐藤 繭子, 豊岡 公徳「光-電子相関顕微鏡法とアレイトモグラフィー法を組み合わせて蛍光を放つオルガネラを電顕で捉える」Plant Morphology vol.34, pp.15-23
