理研CSRS質量分析・顕微鏡解析ユニット

透過電子顕微鏡解析機器

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TEM　透過電子顕微鏡 日本電子　JEM-1400 Flash & 広域撮像システム

走査電子顕微鏡解析機器

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電界放出型走査電子顕微鏡 日立ハイテク　SU8220 with EDX & MirrorCLEM

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汎用走査電子顕微鏡 日立ハイテク　SU1510

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卓上走査電子顕微鏡　日立ハイテク　TM4000 plus II

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高圧凍結装置(光刺激＆電気刺激システム搭載)
ライカ EM ICE

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ウルトラミクロトーム
ライカ EM UC7

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トリミング装置　
ライカ Trim II

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臨界点乾燥装置　
Bal-Tec CPD-030

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凍結乾燥装置　
真空デバイス　VFD-30

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オスミウムコーター　
真空デバイス　HPC-1SW
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カーボンコーター　
真空デバイス　VC-100S
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イオンスパッター装置　
日本電子 JFC-1600